崗位職責(zé):
1、 負(fù)責(zé)全芯片級(jí)的DFT策略和方法學(xué);
2、 負(fù)責(zé)全芯片的DFT實(shí)現(xiàn),包括SCAN插入,ATPG測(cè)試向量生成,邊界掃描,功能性測(cè)試向量生成等;
3、 與前端工程師合作,負(fù)責(zé)IP的測(cè)試方案;
4、 負(fù)責(zé)DFT相關(guān)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)(時(shí)序/功耗分析),與前后端協(xié)作驅(qū)動(dòng)芯片的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)順利完成;
5、 參與DFT設(shè)計(jì)的RTL/門級(jí)仿真;
6、 部分參與設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)工作,包括RTL綜合,時(shí)序/功耗分析等。